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行业观察

3D DRAM验证成功 内存技术迎来革新

V科技 作者 V科技 发布时间 2026年04月27日 11:04 浏览量 7 0 评论

NEO Semiconductor 3D X-DRAM 技术概念验证成功,预示 AI 内存新纪元

2026年4月23日,美国新创人工智能与存储技术厂商 NEO Semiconductor 宣布,其备受瞩目的 3D X-DRAM 技术已成功完成概念验证(Proof-of-Concept, POC)。这一里程碑式的进展证明了其新型 3D 堆叠内存技术能够利用现有的 3D NAND Flash 生产线进行制造,为应对 AI 时代对高密度、低功耗、低成本内存解决方案日益增长的需求铺平了道路。

性能飞跃:3D X-DRAM 远超现有 DRAM 标准

此次概念验证芯片的开发,是 NEO Semiconductor 与中国台湾阳明交通大学产学创新学院(IAIS)紧密合作的成果,并在应用研究院台湾半导体研究所(NIAR-TSRI)完成了流片与测试。芯片通过了严苛的电学与可靠性评估,充分证实了其内存架构的稳健性和稳定性。

概念验证测试结果显示,NEO Semiconductor 的 3D X-DRAM 在关键性能指标上展现出压倒性优势:

  • 读写延迟:低于 10 纳秒(<10 ns),完全满足高性能计算对速度的极致要求。
  • 数据保持时间:在 85℃ 高温下可保持超过 1 秒,这是 JEDEC(固态技术协会)标准 DRAM 64 毫秒保持时间的 15 倍之多,极大地提升了数据可靠性。
  • 抗干扰能力:在 85℃ 下,位线干扰和字线干扰均超过 1 秒,展现出卓越的信号完整性。
  • 循环耐久性:超过 1014 次读写周期,意味着其使用寿命远超现有 DRAM 规格,可应对严苛的应用场景。

这些数据表明,3D X-DRAM 不仅在保持高速读写能力的同时,还在数据保持和耐用性方面取得了突破性进展,预示着其在满足未来计算需求方面具有巨大潜力。

3D DRAM验证成功 AI内存将迎来革命

前台积电首席技术官、现任阳明交通大学资深副校长孙元成(Jack Sun)博士对此次合作给予高度评价:“我很高兴这次产学界紧密的合作,在真实的硅制造工艺条件下验证了 NEO 3D DRAM 概念的可行性。这项成功的概念验证不仅展示了创新内存架构的潜力,也证实了利用成熟工艺实现先进内存技术的可行性。”

TechInsights 高级技术研究员 Jeongdong Choe 指出:“随着传统 DRAM 微缩接近极限,NEO 的硅基概念验证代表着重要的里程碑。就像过去十年向 3D NAND 的转型一样,我们现在正见证着超越传统微缩极限的 3D DRAM 新纪元的曙光。”

重塑 AI 内存格局:3D X-DRAM 与 X-HBM 的潜力

当前,NAND Flash 闪存已全面进入 3D 时代,通过不断攀升的堆叠层数,实现了容量的巨大提升和单位比特成本的快速下降。然而,DRAM 在 2D 平面时代面临着微缩瓶颈,单位比特成本降低幅度缓慢。虽然曾有如英特尔 Optane 3D XPoint 等存储级内存技术尝试缩小与 NAND 的差距,但因成本、产量等问题未能广泛普及。

3D DRAM验证成功 AI内存将迎来革命

NEO Semiconductor 提出的 3D X-DRAM 技术,借鉴了 3D NAND Flash 的成功模式,通过增加堆栈层数来大幅提升内存容量。其早期的“1T0C”(一个晶体管,零个电容器)单元设计,利用类似 3D NAND 的浮栅极技术,有望实现高达 230 层堆栈,核心容量可达 128Gb,是当前 2D DRAM(16Gb)的 8 倍,并兼具高良率、低成本和高密度的优势。

3D DRAM验证成功 AI内存将迎来革命

3D DRAM验证成功 AI内存将迎来革命

在 2025 年,NEO Semiconductor 进一步推出了 1T1C 和 3T0C 架构,并计划在 2026 年量产概念验证测试芯片,届时密度最高可达 512Gb,将提供当前传统 DRAM 模块 10 倍的容量。NEO Semiconductor 甚至预测,到 2030 年至 2035 年间,单颗内存芯片容量有望达到 1Tb,这将极大改变内存系统的容量密度和成本构成。

此次 3D X-DRAM 技术概念验证的成功,为实现其商业化铺平了道路。更重要的是,该技术不仅能满足 AI 工作负载对高性能、低功耗的需求,还能利用现有的 3D NAND Flash 制造工艺,实现快速规模化量产。NEO Semiconductor 创始人兼 CEO Andy Hsu 表示:“这些结果验证了 DRAM 新的微缩路径。我们相信这项技术可以为 AI 时代实现显著更高的密度、更低的成本和更高的能效。通过利用成熟的 3D NAND 制造工艺和生态系统,我们的目标是让 3D DRAM 更快成为现实。”

在超高带宽内存(X-HBM)方面,NEO Semiconductor 也在 2025 年推出了基于 3D X-DRAM 技术的全球首个 X-HBM 架构。该架构拥有 32000 位(32K-bit)的超高位宽和单层 512Gb 的容量,相较于传统 HBM,带宽提升 16 倍,密度提升 10 倍。这在 AI 算力需求呈指数级增长、传统 HBM 面临密度、带宽、功耗瓶颈的背景下,无疑为未来 AI 芯片提供了强大的内存支持,甚至在性能上提前约 15 年超越了行业预测。

宏碁创始人领投,加速商业化进程

NEO Semiconductor 成立于 2012 年,专注于内存架构的创新,以满足 AI 和数据驱动计算的需求。其核心技术包括 X-NAND、3D X-AI 和 X-HBM,以及旗舰产品 3D X-DRAM。

在此次 3D X-DRAM 技术成功完成概念验证之际,NEO Semiconductor 同时宣布获得了由宏碁创始人、台积电前董事施振荣(Stan Shih)领投的新一轮战略投资。施振荣先生的参与,被视为对 NEO Semiconductor 技术实力和未来愿景的有力认可。施振荣先生表示:“我很高兴看到这一突破通过产业界与学术界的合作实现……NEO 的 3D DRAM 预计将在未来系统架构中发挥关键作用。”

V科技点评

此次获得的资金将支持公司下一阶段的发展,包括阵列级实现、多层测试芯片开发,以及与领先存储器公司的深入合作。NEO Semiconductor 目前正积极与行业伙伴探讨商业化合作,目标是将 3D X-DRAM 打造成下一代 AI 存储系统的基础技术。

NEO Semiconductor 3D X-DRAM 技术概念验证的成功,不仅在技术层面展示了其突破性的进展,更重要的是,它为解决当前 AI 时代面临的内存瓶颈提供了可行的解决方案。通过利用成熟的 3D NAND 制造工艺,有望加速该技术的商业化进程,并可能引领一场 AI 内存技术的革命。

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